Целью работы является исследование структурных параметров фазы 1–2–3 прецизионным рентгенодифракционным методом. Проведено уточнение состава и структурных параметров до фактора расходимости R = 0,008. Состав вещества может быть выражен формулой . Более высокие значения среднеквадратичных амплитуд колебаний атомов и анизотропии колебаний получены для Си1 и О1, находящихся в базисной плоскости z = 0. Сопо-ставление с данными, полученными при низких температурах, позволяет предположить, что высокая по-движность Си1 и О1 связана со статическими смещениями атомов из своих кристаллографических пози-ций. Имеется корреляция между отклонением от стехиометрии по кислороду, периодом решетки с и ве-личиной температуры сверхпроводящего перехода Tc. Увеличение содержания кислорода сопровождается повышением Tc. Построены зависимости изотропных среднеквадратичных амплитуд колебаний атомов-компонент соединений от содержания кислорода. Для атома О1 в тетрагональной фазе наблюдается заметный рост среднеквадратичных амплитуд колебаний с возрастанием кислородного ин-декса, что может быть связано с увеличением неустойчивости структуры. Можно заключить, что ана-лиз прецизионных дифракционных исследований оксидов иттрия-бария-меди позволяет выявить струк-турные особенности, обусловливающие нестабильность этого класса материалов.